Hibridni metod za detekciju ivica na TEM slikama nanočestica

Apstrakt

Opšta primena fundamentalnih delova digitalne obrade slike nalazi sve širu primenu u različitim oblastima nauke. Sa ubrzanim razvojem tehnologije mikroskopskih slikanja, potreba za robusnom segmentacijom nanočestica značajno se povećava. Zbog velike različitosti u broju i obliku nanočestica na TEM slikama većina postojećih metoda samo je sposobna da segmentira određene vrste nanočestica. Uzimajući u obzir karakteristike nanočestičnih materijala, ovaj rad daje predlog novog algoritma detekcije ivica. Kao ocena podobnosti predloženog algoritma u radu, analiza je izvršena kako kroz prostornu, tako i kroz amplitudsku rezoluciju digitalne slike. U cilju dodatne preciznosti rezultata, analiza je vršena kroz slike nanočestica različitog stepena uvećanja. Slike tog tipa daju i različit stepen šumova u digitalnoj slici, pa je krajnja analiza dala ocenu stepena otpornosti na predloženi algoritmi detekcije ivica na šumove koji se javljaju u slikama nanočestica. Svi dobijeni rezultati ukazuju na visok stepen korisnosti obrađenih TEM slika, kako u prostornom tako i u amplitudskom domenu.